Рентгенівський дифрактометр, прилад для виміру інтенсивності і напряму рентгенівського випромінювання, дифрагованого на кристалічному об'єкті. Р. д. застосовується для вирішення різних завдань рентгенівського структурного аналізу . Він дозволяє вимірювати інтенсивності дифрагованого в заданому напрямі випромінювання з точністю до 10-х доль відсотка і кути дифракції з точністю до 10-х доль хвилини. За допомогою Р. д. можна виробляти фазовий аналіз полікристалічних об'єктів і дослідження текстур, орієнтування монокристальних блоків, отримувати повний набір інтенсивностей віддзеркалень від монокристала, досліджувати структуру багатьох речовин за різних зовнішніх умов і так далі
Р. д. складається з джерела рентгенівського випромінювання рентгенівського гоніометра, в який поміщають досліджуваний зразок, детектора випромінювання і електронного реєструючого для вимірника пристрою. Детектором в Р. д. служить не фотоплівка, як в рентгенівській камері, а лічильники квантів (сцинтиляційні, пропорційні, напівпровідникові лічильники або Гейгера — Мюллера лічильники ) . Дифракційну картину зразка в Р. д. отримують послідовно: лічильник переміщається в процесі виміру і реєструє енергію випромінювання за певний інтервал часу, що попала в нього. В порівнянні з рентгенівськими камерами Р. д. володіють вищою точністю, чутливістю, більшою експрессностью. Процес здобуття інформації в Р. д. може бути повністю автоматизований оскільки в нім відсутня необхідність прояву фотоплівки, причому в автоматичному Р. д. приладом управляють ЕОМ(електронна обчислювальна машина), отримані дані поступають на обробку в ЕОМ(електронна обчислювальна машина). Універсальні Р. д. можна використовувати для різних рентгеноструктурних досліджень, замінюючи приставки до гоніометричного пристрою. У великих лабораторіях застосовуються спеціалізовані дифрактометри, призначені для вирішення який-небудь одного завдання рентгеноструктурного аналізу.
Літ.: Хейкер Д. М., Зевін Л. С., Рентгенівська дифрактометрія, М., 1963; Хейкер Д. М., Рентгенівська дифрактометрія монокристалів, Л., 1973.
