Спорідненість до електрона, електронна спорідненість, здатність деяких нейтральних атомів, молекул і радикалів вільних приєднувати додаткові електрони, перетворюючись на негативних іони . Мірою цієї здатності для часток кожного певного сорту служить енергія С. до е. S , рівна різниці енергії нейтрального атома (молекули) в основному стані і енергії основного стану негативного іона, що утворився після приєднання електрона.
У більшості атомів С. до е. пов'язано з тією обставиною, що їх зовнішні електронні оболонки не заповнені (див. Атом ). До таких атомів відносяться атоми Н і елементи 1-ої групи періодичною системи елементів (один зовнішній s -електрон), а також атоми 3, 4, 5, 6, 7-й груп (неповне число р-електронів). Захоплення додаткового електрона атомами Fe, З і Ni, в яких у нормальному стані 2 зовнішніх s-електрона, як прийнято вважати, приводить до заповнення вільного місця на внутрішній оболонці 3d .
Величина S точно визначена лише для небагатьох атомів (дані про S молекул і радикалів більшої частиною недостатньо надійні). Прямо виміряти S атомів можна, наприклад, визначивши довжину хвилі світла l 0 , відповідну т.з. порогу фотовідщеплення (фотовідриву) електрона від негативного іона: S = hc/ l 0 ( h — Планка постійна, з — швидкість світла ). Цим методом були встановлені величини S атомів З, Про, S, I, Cl. Використання для виміру 5 явищ поверхневої іонізації (випар атомів галогенів з поверхні розжареного W) доки не дало точних значень S унаслідок того, що із-за полікристалічної структури вольфраму робота виходу одного і того ж атома на різних ділянках його поверхні неоднакова. Із значно більшою точністю визначається різниця S двох атомів, коли вони випаровуються з однієї і тієї ж поверхні, перетворюючись при цьому на негативні іони. Типові S атомів (у електронвольтах ): Н — 0,754; З — 1,25; Про — 1,46; S — 2,1; F — 3,37; Cl — 3,65; Br — 3,35; I — 3,08. Величини S молекул і радикалів вагаються в широких межах. У ряді випадків вони складають долі ев , але для No 2 S > 3 ев , для ОН S ≈ 2 ев , для CN S > 3 ев .
