Смуги рівної товщини
 
а б в г д е ж з и й к л м н о п р с т у ф х ц ч ш щ ъ ы ь э ю я
 

Смуги рівної товщини

Смуги рівної товщини , один з ефектів оптики тонких шарів, на відміну від смуг рівного нахилу, спостерігаються безпосередньо на поверхні прозорого шару змінної товщини ( мал. 1 ). Виникнення П. р. т. обумовлене інтерференцією світла, відбитого від переднього і заднього кордонів шаруючи (П. р. т. у відбитому світлі), або світла, що проходить прямо через шар, з двічі відбитим на його кордонах (П. р. т. в проходящем світлі). Смугами в строгому сенсі (виразними, поперемінно темними і світлими) зазвичай є лише П. р. т. монохроматичному світлі або близькому до нього (світлі, довжини хвиль l якого поміщені в порівняно невеликому інтервалі). При цьому максимуми і мінімуми освітленості смуг збігаються з лініями на поверхні шаруючи, по яких різниця ходу променів, що інтерферують, однакова і дорівнює цілому числу l/2. На цих лініях однакова геометрична товщина шаруючи — звідси назва «П. р. т.». При освітленні білим світом накладення П. р. т. що відповідають променям з різними l, створює складну веселково-колірну картину, в якій П. р. т. променів з окремими l частенько невиразні. П. р. т. обумовлюють веселкове забарвлення тонких плівок (мильних міхурів, масляних і бензинових плям на воді, плівок оксидів на металах, зокрема кольори мінливості, і пр.). Їх використовують для визначення мікрорельєфу тонких пластинок і плівок ( мал. 2 ), у ряді інтерферометрів і ін. пристроїв для точних вимірі (див., наприклад, Ньютона кільця і мал. до цієї статті; кільця Ньютона — приватний приклад П. р. т.).

  Літ. див.(дивися) при ст. Інтерферометр, Оптика тонких шарів . Смуги рівного нахилу .

Мал. 1. Різниця ходу променів, що інтерферують, відбитих від верхнього і нижнього кордонів тонкого шару, залежить від кутів падіння освітлюючих променів. Проте розкид цих кутів навіть в разі протяжних джерел світла зазвичай настільки невеликий, що різниця ходу, що набуває в точці М-коду шаруючи променями 1—1'' і 2—2''; які випущені різними ділянками (S 1 і S 2 ) джерела, практично однакова. Тому смуги рівної товщини локалізовані безпосередньо на поверхні шаруючи і їх можна спостерігати без допоміжних оптичних пристроїв (лінза на мал.(малюнок) може бути кришталиком очі). М'' — крапка на сітківці ока (або — при використанні додаткової лінзи — на екрані), де фокусується зображення крапки М-кодом поверхні шаруючи, т. е, одній з точок лінії рівної товщини.

Мал. 2. Смуги рівної товщини на поверхні слюдяної пластинки, що характеризують мікрорельєф цій поверхні.